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SZT-2B型四探針測試儀產(chǎn)品詳細說明：

SZT-2B四探針測試儀
1．主機采用先進電路設計，所測數(shù)值更精、更快、更準（一代為傳統(tǒng)式電路，缺點：體積大，速度慢，元器件繁多導致影響機器壽命）。
2．屏幕采用液晶顯示（一代為只有數(shù)碼管顯示）。
3．匹配電腦接口及軟件，讓操作簡便明了化（可直接連接電腦，電腦進行自動運算根據(jù)輸入指定厚度，自動比照并修正系數(shù)，使被測結果更精確，數(shù)據(jù)可儲藏或刪除，利于使用方保存記錄），此為選配件。
4．SZT-2B的測試架上的測試臺面比傳統(tǒng)測試架的測試臺面長寬各大100mm,以滿足測試大片的需要，采用自動傳感裝置，接近被測物體時實行自動減速，避免了被測物體的損耗和探頭的磨損（領先于國內市場上任何一款同類產(chǎn)品的測試架，老一代為手動）還有可以提高測量的精度。
5. 本儀器測試電阻、電阻率、方塊電阻時，標準系數(shù)為機器自帶自調，無需另外手工調整，省去了原儀器的諸多麻煩。
6. 本儀器的最小分辨率為0.1mΩ
7．主機手自一體功能，并且測試架也是手動和自動都能一體完成，無需再配兩套。
8．測試探頭為鎢針，市場上多為高速鋼針。
9．每次測量均有內置計算機自動進行溫度補償及電壓電流矯正。
10．整機測量標準不確定度：≤ 2%（國內其它廠家誤差為≤ 5% ）

SZT-2B型四探針測試儀技術參數(shù):1)．
測量范圍：
電阻率：10的-4次方~10的6 次方Ω-cm
方塊電阻：10的-4次方 ~10的6 次方Ω/□
電阻：10的-4次方 ~10的6 次方Ω
2)． 可測半導體材料尺寸
直徑：5mm-250mm
長度：任意（需要配筆試探頭）
3)． 測量方法：
軸向、斷面均可
4)． 顯示方式：41/2,數(shù)顯,極性、過載自動顯示，小數(shù)點、單位自動顯示。
5)． 恒流源：
（1） 電流輸出：直流電流0~100 mA連續(xù)可調。
（2） 量程：1、10、100μA、1、10、100mA
（3） 誤差：±0.5%讀數(shù)±1個字
6).四探針測試探頭
(1) 探針間距:1mm
(2) 材料:碳化鎢.探針機械游移率:±1.0%
7).電源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W