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產(chǎn)品名稱: SB2204/3(QS1B)型智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀
型號(hào)規(guī)格: SB2204/3(QS1B)型智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀
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產(chǎn)品類別: 常規(guī)產(chǎn)品 -- 儀器儀表 -- 電阻表
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參考價(jià)格: 廠價(jià)直銷
產(chǎn)品品牌: 上表
產(chǎn)品產(chǎn)地: 上海
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可供數(shù)量: 批量
供貨周期: 現(xiàn)貨(或電詢)
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SB2204/3(QS1B)型智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀產(chǎn)品詳細(xì)說明:
SB2204/3型智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種新穎的測(cè)量介質(zhì)損耗角正切(tgδ)和電容值(Cx)的自動(dòng)化儀器?梢栽诠ゎl高電壓下,現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗角正切(tgδ)和電容值(Cx)。與西林電容電橋相比,具有操作簡(jiǎn)單、自動(dòng)測(cè)量、讀數(shù)直觀、無需換算、精度高、抗干擾能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。儀器內(nèi)附標(biāo)準(zhǔn)電容器和升電壓裝置,在“內(nèi)接”方式下使用,無需其它外接設(shè)備,便于攜帶。具有多種測(cè)量方式,可選擇正/反接線、內(nèi)/外標(biāo)準(zhǔn)電容器和內(nèi)/外試驗(yàn)電壓進(jìn)行測(cè)量。正接線可測(cè)量高壓介損。內(nèi)附SF6標(biāo)準(zhǔn)電容器,tgδ<0.005%,受空氣濕度影響小,矢量運(yùn)算法結(jié)合移相、倒相法,抗干擾效果好;能有效地消除強(qiáng)烈的電場(chǎng)干擾對(duì)測(cè)量的影響,適用于500kV極其以下電站的強(qiáng)干擾現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)。

主要特點(diǎn)
高壓短路和突然斷電時(shí),儀器能迅速切斷高壓,并發(fā)出警告信息。
測(cè)量重復(fù)性好,電壓線性好(測(cè)量準(zhǔn)確度不受電壓影響)。
一體化結(jié)構(gòu),重量適中,便于攜帶。
大屏幕帶背光中文液晶顯示器信息提示操作,使用方便。
儀器自帶打印機(jī),及時(shí)保存測(cè)試數(shù)據(jù)。
高壓電纜連接至試品,保障安全;儀器未接地報(bào)警,安全措施完備。

SB2204/3(QS1B)型智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)
額定工作條件:溫度0~40℃,相對(duì)濕度:30%~85%,供電電源220V±22V 50±1Hz
外形尺寸:440×330×400mm
重量:不大于23kg
功耗:不大于40VA
測(cè)量范圍:介質(zhì)損耗(tgδ) 0~1分辨率0.0001;電容量(Cx):最小分辨率0.01pF
內(nèi)接方式:試驗(yàn)電壓試品電容量5kV 7.5kV 10kV 3pF~40000PF
1.5kV 2.25kV 3Kv 10pF~0.35μF
0.5kV 0.75kV 1kV 30pF~1.5μF
外接方式:“外接升壓器”方式最高試驗(yàn)電壓10kV,“外接Cn”方式(外接高壓、外接標(biāo)準(zhǔn)電容器)最高試驗(yàn)電壓由標(biāo)準(zhǔn)電容器和被試品決定(Umax=Imax/ωC)
標(biāo)準(zhǔn)回路最大電流50mA(In=UωCn)被試回路最大電流2A(Ix=UωCx)
內(nèi)部升壓器輸出能力:輸出電壓額定輸出電流5kV 7.5kV 10kV 100mA;1.5kV 2.25kV 3kV 300mA;0.5kV 0.75kV 1kV 500mA
基本測(cè)量誤差:

測(cè)量?jī)?nèi)容

tgδ范圍

電容量范圍(Cx)

試品類型

基本誤差

介質(zhì)損

耗因數(shù)

tgδ

0~0.5

50pF~60000pF

非接地

±(1%讀數(shù)+0.0005)

接地

±(1%讀數(shù)+0.0010)

10pF~50pF或

60000pF以上

非接地

±(1%讀數(shù)+0.0010)

接地

±(2%讀數(shù)+0.002)

3pF~10pF

非接地

與接地

電容量

50pF以上

±(1%讀數(shù)+1pF)

50pF以下

±(1%讀數(shù)+2pF)


工作原理
SB2204/3(QS1B)型智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀測(cè)量線路包括一路標(biāo)準(zhǔn)回路和一路被試回路,標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與采樣電路組成,被試回路由被試品和采樣電路組成。由8031單片機(jī)運(yùn)用計(jì)算機(jī)數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法,對(duì)數(shù)以萬計(jì)的采樣數(shù)據(jù)處理后進(jìn)行矢量運(yùn)算,分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位關(guān)系,并由之算出試品的電容值(Cx)和介質(zhì)損耗角正切(tgδ),測(cè)量結(jié)果可靠,F(xiàn)場(chǎng)有干擾時(shí),先利用移相、倒相法減小干擾的影響,再將被試回路測(cè)`得的電流Ix′與單獨(dú)測(cè)得的干擾電流Id矢量相加,得到真正的測(cè)量電流Ix,進(jìn)而得出正確的測(cè)量結(jié)果。由圖3可見,可根據(jù)不同的測(cè)量對(duì)象和測(cè)量需要,靈活地采用多種接線方式。如測(cè)量非接地試品(正接法)時(shí),“LV”(E)點(diǎn)接地;而測(cè)量接地試品(反接法)時(shí),則“HV”點(diǎn)接地。

SB2204/3(QS1B)型智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀
產(chǎn)品分類
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