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USK-502射頻電容物位儀產(chǎn)品詳細說明：

USK--502射頻電容物位儀

概述
502系列射頻電容物位計，系全套引進國外先進技術(shù)及制造工藝的物位測量產(chǎn)品之一。它使復雜的物位測量如高溫、高壓、真空、強腐蝕等介質(zhì)的物位測量變得容易而簡單。經(jīng)過多年的努力和實踐，以射頻電容技術(shù)為核心的物位測量系統(tǒng)日臻完善，現(xiàn)已開發(fā)并生產(chǎn)出能夠滿足不同要求的如：污水、污油、熔融介質(zhì)、固體顆粒等物位測量產(chǎn)品。

主要特點

應用射頻電容技術(shù)，從根本上解決了溫度、濕度、壓力、物體的導電性等因素對測量過程的影響，
因而具有極高的抗干擾性和可靠性。
能夠測量強腐蝕性的液體和固體顆粒。
高溫、高壓測量：過程溫度-40～320°C；過程壓力-0．1～1 6Mpa
獨特的兩點現(xiàn)場定標技術(shù)為用戶輕松的投用產(chǎn)品提供了便利。

主要技術(shù)指標

測量方式：射頻電容，采用1 6位單片機來校正頻率和電容之間的非線性。
用戶接口：1、通過現(xiàn)場撥碼開關(guān)和按鈕。
2、通過RS－485數(shù)字通訊。
電 源：1 2～24VDC
輸 出：4～20mA，900Ω
精 度：0．5%，0．2%
環(huán)境溫度：-30～70℃
環(huán)境濕度：O～95%RH
過程溫度：-40～320℃
測量范圍：0-1 5m
過程壓力：-O．1～1 6Mpa
外 殼：合金隔爆型，適用于潮濕，有酸氣等腐蝕性環(huán)境。
探 極：可采用任一種剛性或柔性探極。

產(chǎn)品型號表